原子力顯微鏡探針與樣品表面原子之間存在多種作用力，其中包括范德瓦耳斯力、排斥力、靜電力、形變力、磁力、化學(xué)作用力等。原子力顯微鏡使用時(shí)，會(huì)消除出來范德瓦耳斯力以及排斥力之外作用力的影響;再加上，除了以上兩種力之外，其他力本身也相對(duì)較小。
 

　　因此，原子力顯微鏡探測(cè)到的原子力主要由范德瓦爾斯力以及排斥力組成。其中范德瓦耳斯力為吸引力，排斥力的本質(zhì)為原子電子云之間的相互作用，其本質(zhì)為一種量子效應(yīng)。
 

　　怎樣使用原子力顯微鏡，才能較好地保護(hù)探針?
 

　　探針價(jià)格較為昂貴，操作可能損壞探針的時(shí)候應(yīng)該緩慢、小心。在將樣品靠近探針的過程中，先順時(shí)針旋轉(zhuǎn)粗調(diào)旋鈕，在樣品距離探針約為1mm的地方改用細(xì)調(diào)旋鈕。調(diào)整細(xì)調(diào)旋鈕的時(shí)候，觀察控制機(jī)箱上的讀數(shù)。
 

　　在這個(gè)過程中，始終注意觀察，以免使得樣品過于靠近探針，壓壞探針。在測(cè)量過程中，注意掃描頻率不要太快，以免損傷探針。原子力顯微鏡使用完后，必須先逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)細(xì)調(diào)旋鈕，再逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)粗調(diào)旋鈕，以取出樣品，以避免對(duì)于探針的損傷。